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“日本AEMIC品牌 AE-381A快速高精度MLCC电容测试仪”参数说明
| 元器件种类： | 片状元器件测试仪 | 型号： | Ae-381A |
| 规格： | 电容测试仪 | 商标： | 日本aemic |
| 包装： | 原厂 | 产量： | 10000 |
“日本AEMIC品牌 AE-381A快速高精度MLCC电容测试仪”详细介绍
MLCC的芯片编带机使用最佳
■ 超高速： ... 0.3毫秒[1兆赫]，1毫秒[1千赫]，8.34Msc [120赫兹]（时间快速测量）
■ 接触故障检测探头还二端测量的测定异常检测
■ 4针接触检查可能
■ 测量频率： ±0.1％1MHz/1kHz/120Hz（正弦波）
■ 串联等效电路，并联等效电路可切换
■ 恒定电压测量（一些不符合规定的范围）
■ DF测量[0.0000～0.5000]，Q测量[0-10000]可能
■ C的测量：41/2位（15000）数字显示，内置比较器功能，HI / GO / LO输出
■ RS-232C接口，打印机输出（并口标准装备）（GP-IB选项）
■ 间断地施加测量电流，以减少探针接触的磨损
■ 值被输出到打印机的测量，统计数据，日期，时间等，即使是在测
■ 接触故障检测探头还二端测量的测定异常检测
■ 4针接触检查可能
■ 测量频率： ±0.1％1MHz/1kHz/120Hz（正弦波）
■ 串联等效电路，并联等效电路可切换
■ 恒定电压测量（一些不符合规定的范围）
■ DF测量[0.0000～0.5000]，Q测量[0-10000]可能
■ C的测量：41/2位（15000）数字显示，内置比较器功能，HI / GO / LO输出
■ RS-232C接口，打印机输出（并口标准装备）（GP-IB选项）
■ 间断地施加测量电流，以减少探针接触的磨损
■ 值被输出到打印机的测量，统计数据，日期，时间等，即使是在测